[发明专利]色层分析定量测量装置有效
申请号: | 200410032373.3 | 申请日: | 2001-09-25 |
公开(公告)号: | CN1529150A | 公开(公告)日: | 2004-09-15 |
发明(设计)人: | 三好浩二;阿河昌弘;重松薰 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N30/00;G01N33/543 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 李德山 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是:在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下,检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化,并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置,通过利用光学部件使光束成为椭圆形状,可以缓和显色不均并使定量分析高精度化,此外,还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。 | ||
搜索关键词: | 分析 定量 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种色层分析定量测量装置,对具有作为添加被检查溶液的部分的添加部、利用上述被检查溶液的展开保持了可洗提的标识试剂的标识试剂保持部、可进行上述标识试剂和包含在上述被检查溶液中的分析对象物的特异结合反应的基底部和进行上述标识试剂与上述分析对象物的结合物质的固化的检测部的色层分析试片,照射光源出射的光束,利用来自上述色层分析试片的透过光或者反射光进行光学信号检测,并根据上述信号定量地测量上述被检查溶液中所包含的分析对象物的浓度,其特征在于:在上述色层分析试片上添加被检查溶液,在上述基底部的规定的位置上照射上述光束,并检测伴随上述被检查溶液的展开的上述标识试剂的洗提而产生的来自上述色层分析试片的透过光或者反射光的变化后一定时间后,进行包含在上述被检查溶液中的分析对象物的浓度测量。
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