[发明专利]颗粒状物质捕集用过滤膜、使用该过滤膜的取样器以及颗粒状物质的分析装置有效
| 申请号： | 200410032415.3 | 申请日： | 2004-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN1539543A | 公开（公告）日： | 2004-10-27 |
| 发明（设计）人： | 齐藤胜美;加藤纯治;藤原雅彦;筱原政良 | 申请（专利权）人： | 株式会社崛场制作所 |
| 主分类号： | B01D46/54 | 分类号： | B01D46/54;G01N1/00 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 | 代理人： | 徐申民;董红曼 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够在短时间内高精度、简便地进行SPM成分的定量分析的大气中悬浮颗粒状物质捕集用过滤膜。本发明的捕集悬浮颗粒状物质的捕集部由多孔性薄膜构成，该捕集部衬有通气性的加强层，同时使上述加强层含持一定量测定对象物质以外的物质作为标识。本发明还提供一种能够良好地进行颗粒状物质捕集的颗粒状物质捕集用过滤膜以及使用该颗粒状物质捕集用过滤膜的颗粒状物质取样器。所述颗粒状物质捕集用过滤膜(201)具有由氟系树脂制得的多孔性层(202)和设在该多孔性层(202)的一面侧的具有通气性的加强层(203)，所述加强层(203)由带电性低的多孔性树脂材料构成。本发明还提供一种能够简单且可靠地进行对大气等的试样气体中所含的颗粒状物质的质量、浓度的测定和对所述颗粒状物质所含有成分的分析的颗粒状物质分析装置。该装置具有用来捕集试样气体S中的颗粒状物质(302)的捕集装置(303)和用来测定所述颗粒状物质(302)的质量的质量测定装置(304)和用来分析由上述捕集装置(303)捕集到的颗粒状物质(302)中的成分的成分分析装置(309)。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒状 物质 捕集用 滤膜 使用 取样 以及 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种大气中的悬浮颗粒状物质捕集用过滤膜，其特征在于，捕集悬浮颗粒状物质的捕集部由多孔性薄膜形成，该捕集部上背衬有通气性的加强层，同时使所述加强层含持有一定量的测定对象物质以外的物质作为标识。
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