[发明专利]去除噪声的方法和装置以及用于数字记录的磁头-介质间距调制的测量有效
申请号: | 200410032436.5 | 申请日: | 2004-03-31 |
公开(公告)号: | CN1658290A | 公开(公告)日: | 2005-08-24 |
发明(设计)人: | 王建民;J·L·普雷塞斯基 | 申请(专利权)人: | 西加特技术有限责任公司 |
主分类号: | G11B5/60 | 分类号: | G11B5/60 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 火惠颖 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于测量磁头-介质间距调制(HMS_Wq)的方法和装置运用一个表面光度仪来测量盘的表面构形。累积功率谱密度(PSD)分布从测得的表面构形生成。不连续和阶跃在PSD分布中被识别。不连续和阶跃被去除以创建一经修正的PSD分布。于是从经修正的PSD分布生成一无噪声谱。 | ||
搜索关键词: | 去除 噪声 方法 装置 以及 用于 数字 记录 磁头 介质 间距 调制 测量 | ||
【主权项】:
1.一种测量磁头-介质间距调制(HMS_Wq)的方法,其特征在于,包含以下步骤:测量盘的表面构形;从测得的所述盘的表面构形生成一累积功率谱密度(PSD);识别累积PSD分布中的不连续及阶跃;和去除累积PSD分布中的不连续及阶跃。
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