[发明专利]半导体元件及其制造方法,半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200410032479.3 申请日: 1997-09-30
公开(公告)号: CN1549305A 公开(公告)日: 2004-11-24
发明(设计)人: 东和司;塚原法人;米泽隆弘;八木能彦;北山喜文;大谷博之 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/768;H01L21/60
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 梁永
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种在IC电极上形成凸点电极的方法,包括:利用丝焊设备在IC电极上形成球焊部位;向上移动焊接毛细管;横向移动焊接毛细管然后向下;把丝焊接于球焊部位;和切断丝,通过把焊接毛细管的槽角设定为不大于90度,使球焊部位高度大于丝直径,可以防止丝与除球焊部位之外的球焊部位周边接触。本发明还提供了用上述方法形成的半导体器件。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制造 方法 半导体器件
【主权项】:
1.一种在IC电极上形成凸点电极的方法,包括:利用丝焊设备在IC电极(104)上形成球焊部位(115);向上移动焊接毛细管(113);横向移动焊接毛细管然后向下;把丝(101)焊接于球焊部位;和切断丝,通过把焊接毛细管的槽角(107)设定为不大于90度,使球焊部位高度大于丝直径,可以防止丝与除球焊部位之外的球焊部位周边接触。
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