[发明专利]一种专用集成电路功能验证装置有效
申请号: | 200410032726.X | 申请日: | 2004-04-16 |
公开(公告)号: | CN1684380A | 公开(公告)日: | 2005-10-19 |
发明(设计)人: | 王洋;张云 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04B1/707 | 分类号: | H04B1/707;G01R31/28 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人: | 宋志强;王琦 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种专用集成电路(ASIC)功能验证装置,该装置包括,数据控制模块,用于配置算法信息、源数据、期望数据;并根据其所配置的源数据和算法信息产生单信道或多信道调制数据输出至ASIC数据处理部件;接收ASIC数据处理部件发送的结果数据将其与所配置的期望数据进行比较产生验证结果;ASIC数据处理部件,接收调制数据进行扩频系统算法处理,输出结果数据至数据控制模块。采用本发明装置能够支持扩频系统中多信道调制数据算法的验证,并可大大降低验证成本,从而实现用简单灵活的方法对ASIC实现的算法功能进行验证。 | ||
搜索关键词: | 一种 专用 集成电路 功能 验证 装置 | ||
【主权项】:
1、一种专用集成电路ASIC功能验证置,其特征在于,该装置包括:数据控制模块,用于配置算法信息、源数据、期望数据;并根据其所配置的源数据和算法信息产生单信道或多信道调制数据输出至ASIC数据处理部件;接收ASIC数据处理部件发送的结果数据将其与所配置的期望数据进行比较产生验证结果;ASIC数据处理部件,接收调制数据进行扩频系统算法处理,输出结果数据至数据控制模块。
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