[发明专利]光学存储装置决定缺陷检测模式的方法有效
| 申请号： | 200410033530.2 | 申请日： | 2004-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN1680807A | 公开（公告）日： | 2005-10-12 |
| 发明（设计）人： | 金国文;蔡守仁;丘伟源 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/892 | 分类号： | G01N21/892;G06K7/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 韩宏 |
| 地址： | 台湾*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光学存储装置决定缺陷检测模式的方法，其是先分配光学存储媒体上至少一个检测区以作为存储数据处，并依据缺陷数量多少而设定该检测区为写入检测或写入验证的缺陷检测模式。当该检测区执行该写入检测而发现缺陷累积数量大于一预设的阈值时，则将该检测区变更设定为写入验证的缺陷检测模式。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 存储 装置 决定 缺陷 检测 模式 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学存储装置决定缺陷检测模式的方法，包含下列步骤：分配一光学存储媒体的至少一检测区以作为数据存储区域；设定该检测区为一写入检测的缺陷检测模式，并以该写入检测的缺陷检测模式将数据写入该至少一检测区内；以及若检测出任一该检测区的缺陷累积数量大于一预设的阈值，则将该缺陷检测的缺陷检测模式改为一写入验证的缺陷检测模式。
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