[发明专利]识别透明材料中的缺陷的方法和装置无效
| 申请号： | 200410034255.6 | 申请日： | 2004-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN1536350A | 公开（公告）日： | 2004-10-13 |
| 发明（设计）人： | K·格尔斯特纳;C·奥特曼;T·齐默曼;J·德罗斯特 | 申请（专利权）人： | 肖特玻璃制造厂;拉索股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 胡强;赵辛 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及识别透明材料中的缺陷的方法，其中用第一发光装置照射透明材料的一定的部分体积，用第二发光装置如此将光线耦合输入透明材料中，即光路在上述部分体积里只在该材料中延伸，这样识别在该部分体积里的缺陷，即探测由该缺陷散射的光，或探测由该缺陷引起的在明场内的光吸收，和/或探测由该缺陷引起的、所述第一发光装置的光线的偏转。本发明还涉及识别材料中的缺陷的装置，它包括用于照射透明材料的一定部分体积的第一发光装置、用于探测来自该部分体积的光的探测器和第二发光装置，第二发光装置如此相对透明材料布置，即对应的光路在所述部分体积内只在该透明材料内延伸。 | ||
| 搜索关键词： | 识别 透明 材料 中的 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种识别透明材料中的缺陷的方法，其中，用第一发光装置照射该透明材料的一定的部分体积，用第二发光装置如此将光线耦合输入该透明材料中，即在所述部分体积内的光路只在该透明材料内延伸，这样识别在该部分体积里的缺陷，即a)探测由该缺陷散射的光，或b)探测由该缺陷引起的在明场内的光吸收，和/或c)探测由该缺陷引起的、所述第一发光装置的光线的偏转。
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