[发明专利]CT系统校正系数计算方法、束硬化后处理方法及CT系统有效

专利信息
申请号: 200410034279.1 申请日: 2004-04-05
公开(公告)号: CN1535659A 公开(公告)日: 2004-10-13
发明(设计)人: 谷川俊一郎;贯井正健 申请(专利权)人: GE医药系统环球科技公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临;王志森
地址: 美国威*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明的目的是计算出更精确的束硬化校正系数。将具有椭圆形截面的人体模型或具有环形(扇形)截面和均匀厚度的人体模型放在X射线CT系统中,并从多个方向对其扫描以便得到多个视图。利用扫描的结果来计算用于校正从受检者那里得到的投影信息的校正系数。
搜索关键词: ct 系统 校正 系数 计算方法 硬化 处理 方法
【主权项】:
1.一种X射线CT系统的校正系数计算方法,包括以下步骤:将具有椭圆形截面的人体模型放在X射线管和X检测器之间的扫描场中,从多个方向扫描该人体模型,以便获得多个视图;以及利用扫描结果来计算校正系数,该校正系数用于校正从受检者那里获得的投影信息。
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