[发明专利]分析方法无效
| 申请号： | 200410034691.3 | 申请日： | 2004-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN1550578A | 公开（公告）日： | 2004-12-01 |
| 发明（设计）人： | W·索南伯格;L·R·巴斯泰德;R·克鲁斯;G·哈姆;M·J·卡佩克斯;E·雷丁顿;K·普莱斯;T·巴克雷;T·古德里奇 | 申请（专利权）人： | 罗姆和哈斯电子材料有限责任公司 |
| 主分类号： | C25D21/14 | 分类号： | C25D21/14 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 蔡胜有 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了用于测定镀液中有机成分的量的分析方法。该分析方法在有机成分浓度的宽范围上有效而且可灵敏地测量低浓度的有机镀液成分。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.测定镀液中有机成分的量的方法，该方法包括：a)获得多个镀液试样，每个镀液试样含有已知且不同量的有机成分；b)在镀液试样中使工作电极经历一个步骤序列，该序列包括静电步骤，循环或脉冲的伏安步骤，或开路步骤，或它们的组合，而且该序列包括表面优化步骤；c)通过描绘该序列的金属电镀或金属剥离步骤期间通过的电荷相对待研究的有机成分的浓度的曲线，制定一个标准曲线图；d)获得一个包含未知量的有机成分的镀液试样，并对工作电极经过使用前述预定序列的步骤的镀液；e)对含有未知量的有机成分的镀液试样，测量在金属电镀或金属剥离步骤期间通过的电荷；和f)比较e)中获得的结果与c)中获得的结果来测定包含未知量的有机成分的镀液中存在的有机成分的量。
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