[发明专利]IC检测装置有效
| 申请号： | 200410037652.9 | 申请日： | 2004-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN1690717A | 公开（公告）日： | 2005-11-02 |
| 发明（设计）人： | 张原龙 | 申请（专利权）人： | 鸿劲科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/00 | 分类号： | G01R1/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨;贺华廉 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IC检测装置，是于测试台的两侧设有具取料器的第一、二取料机构，该第一、二取料机构于机架上均设有横移结构及升降结构，并由二驱动源驱动，以带动取料器各别作X－Z方向位移，另于测试台的前后设有入、出料机构，进而该第一取料机构由入料机构上吸取IC，并载送至测试台进行测试，而第二取料机构即横移至入料机构以吸取IC，第一取料机构于IC测试完毕后，则载送至出料机构上出料，而第二取料机构即将IC载送至测试台测试，此时第一取料机构再重复进行取料作业；藉此，各取料机构独立作动，可易于提升组装精度及载送速度，进而更加提高检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | ic 检测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种IC检测装置，包括：测试台，设于机台上；第一取料机构，设于测试台的侧方，并设有横移结构及升降结构，且各由一驱动源驱动，以带动一取料器作X-Z方向位移；第二取料机构，设于测试台的侧方，并设有横移结构及升降结构，且各由一驱动源驱动，以带动一取料器作X-Z方向位移；入料机构，设于测试台的前方，具有载台结构，用以载送IC；出料机构，设于测试台的后方，并具有载台结构，用以载送IC。
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