[发明专利]具有多个侦测单元的检测芯片无效

专利信息
申请号: 200410038360.7 申请日: 2004-05-24
公开(公告)号: CN1702469A 公开(公告)日: 2005-11-30
发明(设计)人: 张铭元 申请(专利权)人: 名威科技实业有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 王一斌
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明的具有多个侦测单元的检测芯片设计,主要是令芯片内含括有多个导电接点,以及布线于各导电接点间的集成电路所构成,该集成电路内含解码器电路及电路开关,令每一导电接点得搭配一解码器电路及一电路开关而共构形成一侦测单元,如此,检测芯片即得以集成电路将各侦测单元串构组成一检测接触面,且利用少数位址线通过解码器电路以编、解码的分析方式,来控制检测接触面上各侦测单元与待测物测试接点间的讯号传递,而达到进行电路检测的动作。
搜索关键词: 具有 侦测 单元 检测 芯片
【主权项】:
1、一种具有多个侦测单元的检测芯片,其特征在于:主要是令芯片内含括有多个导电接点,以及布线于各导电接点间的集成电路所构成,其中:导电接点,其是采高密度的排设方式选定封装于芯片的基板上,令其顶端的导电层与芯片表面平齐,而底端是与集成电路形成连通导接状;集成电路,其是由解码器电路及电路开关所构成,该解码器电路采编、解码的分析方式,通过软体编程进行测试核心回路的互联,使其与电路开关彼此作用控制讯号与导电接点传递联通;如此构成,即可通过多个以导电接点、解码器电路及电路开关构成一侦测单元,使芯片得以多个侦测单元而架构成一高密度的检测接触面,令芯片可泛与各式具有测试接点的待测物进行电路检测。
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