[发明专利]检测光存储装置的预制槽地址同步的装置和方法有效
| 申请号： | 200410038739.8 | 申请日： | 2004-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN1538447A | 公开（公告）日： | 2004-10-20 |
| 发明（设计）人： | 严佑植 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B27/10 | 分类号： | G11B27/10;G11B27/30 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种检测预制槽地址(ADIP)同步的装置和方法，其允许一光存储装置把数据写到光盘的准确位置，其包括：位同步检测单元和字同步检测单元。当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，该位同步检测单元将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步时，字同步检测单元将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 存储 装置 预制 地址 同步 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测预制槽地址(ADIP)同步的装置，该装置包括：位同步检测单元，当在具有第一预定周期的位同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始位同步时，该位同步检测单元将ADIP位的同步确定为处于位同步锁定状态；和字同步检测单元，当在具有第二预定周期的字同步窗中以第一预定数目的连续次数检测到原始字同步，该字同步检测单元将ADIP字的同步确定为处于字同步锁定状态。
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