[发明专利]芯片封装体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200410039630.6 申请日: 2004-03-12
公开(公告)号: CN1667823A 公开(公告)日: 2005-09-14
发明(设计)人: 宣明智;何凯光;陈国明;唐光辉 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/52;H01L23/28;H01L21/60;H01L21/56;H01L21/50
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种芯片封装体及其方法,此芯片封装体包括一芯片及一硬质盖体,其中芯片具有一有源表面及多个焊垫,且这些焊垫配置于有源表面,而硬质盖体还配置于芯片的有源表面,且暴露出这些焊垫于有源表面的上方。此硬质盖体可保护芯片的有源表面,并增加芯片封装体的结构强度。此外,当硬质盖体的材料为铜或铝合金等导热材料时,硬质盖体可提高芯片封装体的散热效能。另外,当硬质盖体的材料为导电材料时,连接于芯片的接地端的硬质盖体还可降低外界对芯片的电磁干扰(EMI)。
搜索关键词: 芯片 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种芯片封装体,至少包括:一芯片,具有一有源表面及多个焊垫,其中所述焊垫配置于该有源表面;以及一硬质盖体,配置于该芯片的该有源表面,但暴露出所述焊垫于该有源表面的上方。
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