[发明专利]检测光收发结构良莠的方法及装置无效
| 申请号： | 200410039694.6 | 申请日： | 2004-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN1671085A | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | 古文豪;邓伟明;林帝宽 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王铮 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 光收发结构良莠的检测方法与检测装置。首先耦合一量测光纤的一端与一光收发结构。然后，固定此量测光纤与此光收发结构于一固定结构上，且此量测光纤穿过一界定结构的一中空部位。此中空部位定义一量测区域。然后，在此量测区域内移动此量测光纤，并量测此量测光纤内部所传递的光信号的强度变化。最后，以前述强度变化判断此光收发结构的良莠。检测装置则包含固定结构、界定结构以及检测结构。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 收发 结构 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种检测一光收发结构良莠的方法，该方法至少包含：耦合一量测光纤的一端与该光收发结构；固定该量测光纤与该光收发结构于一固定结构上，且该量测光纤穿过一界定结构的一中空部位，该中空部位定义一量测区域，其中该光收发结构的光信号传输路径和该量测区域的中心位于同一水平线上；在该量测区域内移动该量测光纤，并量测该量测光纤内部所传递的光信号的强度变化；以及以前述强度变化判断该光收发结构的良莠。
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