[发明专利]X射线几何结构测定方法及X射线CT装置

摘要

本发明提供了对每台X射线CT装置的实际设备测定X射线几何结构的方法，以及具有进行X射线的几何结构测定功能的X射线CT装置。对具有间距m已知的偏心的2个定位针的模进行扫描，使用由正弦求出的Angle3¹、Angle3²、β及Dist，由下式分别求出距离D和K。

主权项

1.一种X射线几何结构测定方法，其特征在于：使用扇形束X射线和多通道检测器对具有间隔m已知的偏心的2个定位针的模进行扫描，并求出正弦，根据所述正弦，测定在扫描的前半部分中2个定位针重合投影的视图与一个定位针投影到多通道检测器中心的视图的角度差Angle31、在扫描的后半部分中2个定位针重合投影的视图与一个定位针投影到多通道检测器中心的视图的角度差Angle32、一个定位针投影到多通道检测器的中心的视图和另一个定位针投影到多通道检测器的中心的视图的角度差β、以及从多通道检测器的中心到2个定位针重合投影的位置的检测面上的距离Dist，通过下式分别求出从X射线焦点到扫描中心的距离D以及从X射线焦点到多通道检测器中心的距离K。$D=L\frac{\sin ({\mathrm{Angle}3}^2+{\mathrm{Angle}3}^1)}{\sin \left({\mathrm{Angle}3}^1\right)-\sin \left({\mathrm{Angle}3}^2\right)}$ $K=\frac{\mathrm{Dist}}{\mathrm{Angle}4}$ 这里，$L=\frac{m·\sin (\alpha +\mathrm{Angle}4)}{\sin \beta }$ $\mathrm{Angle}4=\arctan \left(\frac{\sin \left({\mathrm{Angle}3}^1\right)-\sin \left({\mathrm{Angle}3}^2\right)}{\cos \left({\mathrm{Angle}3}^1\right)+\cos \left({\mathrm{Angle}3}^2\right)}\right)$ α＝π-Angle31-β