[发明专利]薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法无效

专利信息
申请号: 200410042675.9 申请日: 2004-06-01
公开(公告)号: CN1584570A 公开(公告)日: 2005-02-23
发明(设计)人: 王正道;兑关锁;金明;蒋少卿;汪越胜;赵欣欣;卢建军 申请(专利权)人: 北京交通大学
主分类号: G01N25/16 分类号: G01N25/16
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地址: 100044北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法,其步骤:①要求测试系统的下夹具(2)、上夹具(5)、反向支撑杆(3)和反向联结杆(8)四个部件选用同一种材料(不锈钢材料)。②在测量前对测试系统进行标定,标定样品必须与上述四个部件材料相同。③测量系统标定后,在室温下将被测薄膜样品(4)固定在上夹具(5)和下夹具(2)上,再安装到试验机(1)上,拉伸到样品破坏载荷的5%左右,记录下样品的应力值和环境温度。④进行温控实验,记录下不同时刻的应力和温度值。⑤利用α
搜索关键词: 薄膜 材料 线膨胀 系数 间接 测量方法
【主权项】:
1.薄膜材料线膨胀系数的间接测量方法,该方法的具体步骤:①选择测试系统,要求测试系统中的下夹具(2)、上夹具(5)、反向支撑杆(3)和反向联结杆(8)四个部件必须选用同一种材料(不锈钢材料);②在测量前对测试系统进行标定,标定样品必须与上述四个部件材料相同;③测量系统标定后,在室温下将被测薄膜样品(4)固定在上夹具(5)和下夹具(2)上,再安装到试验机(1)上,进行预拉伸,拉伸到样品破坏载荷的5%左右,保持载荷不变,记录下样品的应力值σ0和环境温度T0;④在试验机上安装控温箱(6),进行温控实验,记录下不同时刻值(σ1,T1),(σ2,T2),…(σn,Tn);⑤利用下面公式计算被测薄膜样品(4)在任意温度区间Ti~Ti+1(i=0~n-1)的线膨胀系数αi值; α i = σ i + 1 - σ i E ( T i - T i - 1 ) ⑥根据计算结果得到被测薄膜样品(4)从T0至Tn整个温度区内的线膨胀系数。
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