[发明专利]基于电阻抗的扬声器低频频率响应的非消声室测量方法无效
| 申请号： | 200410044909.3 | 申请日： | 2004-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN1585566A | 公开（公告）日： | 2005-02-23 |
| 发明（设计）人： | 沈勇;董永政;周静雷;邬宁 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | H04R29/00 | 分类号： | H04R29/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利事务所 | 代理人： | 成立珍 |
| 地址： | 210008*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 基于电阻抗的扬声器低频频率响应的非消声室测量方法：对于任何一种扬声器，根据扬声器的构造建立系统的集中参数电阻抗模型，且包含音圈涡流影响的集中参数电阻抗模型，并在普通环境中测得电输入阻抗曲线；用优化算法根据电输入阻抗曲线优化模型元件参数值，使得由模型计算得到的电输入阻抗曲线与实测的电输入阻抗曲线相吻合，用优化后的参数值即可计算得到低频幅频频率响应的形状。再测得机电耦合系数BI及其它参数，就可以得到真正的低频频率响应。本发明首次提出了所有已知模型的扬声器的基于电阻抗的低频频率响应的非消声室测量方法。其中低频频率响应是指既包含了其曲线形状，又包含了声压幅值大小的频响曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 阻抗 扬声器 低频 频率响应 消声室 测量方法 | ||
【主权项】：
1、基于电阻抗的扬声器低频频率响应的非消声室测量方法：其特征是对于任何一种扬声器，首先根据扬声器的构造建立系统的集中参数电阻抗模型，且包含音圈涡流影响的集中参数电阻抗模型，并在普通环境中测得电输入阻抗曲线，然后用优化算法根据电输入阻抗曲线优化模型元件参数值，使得由模型计算得到的电输入阻抗曲线与实测的电输入阻抗曲线相吻合，用优化后的参数值即可计算得到低频幅频频率响应的形状。如果再测得机电耦合系数BI及其它参数，就可以得到真正的低频频率响应。
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