[发明专利]测试功率输出级的方法和装置有效
| 申请号： | 200410045616.7 | 申请日： | 2004-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1551445A | 公开（公告）日： | 2004-12-01 |
| 发明（设计）人： | W·贝;P·菲舍尔;M·亭宁格尔 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | H02H7/12 | 分类号： | H02H7/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;张志醒 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提出一种测试功率输出级的方法和装置，其中所述功能输出级具有至少一个半桥，此半桥包括串联的且加有工作电压的上位和下位半导体开关，该至少一个半桥的半导体开关之间的节点构成输出端，本发明给出了由控制装置执行的下列相关步骤：在半导体开关未导通时测试，以确定输出端上的电压是否在预定中心容限带内；在上位半导体开关导通时测试，以确定输出端上的电压是否在预定高容限带内；在下位半导体开关导通时测试，以确定输出端上的电压是否在预定低容限带内。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 功率 输出 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试功率输出级的方法，所述功能输出级具有至少一个半桥，此半桥包括串联的且加有工作电压的上位和下位半导体开关，所述至少一个半桥的所述半导体开关之间的连接点构成输出端，其特征在于由控制装置执行下列步骤：- 在所述半导体开关未导通时进行测试，以确定所述输出端上 的电压是否在预定中心容限带内；- 在所述上位半导体开关导通时进行测试，以确定所述输出端 上的电压是否在预定高容限带内；- 在所述下位半导体开关导通时进行测试，以确定所述输出端 上的电压是否在预定低容限带内，以及，当所有所述输出电压在所述相应的容限带内时，就确定所述输出功率级是正常的。
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