[发明专利]IC封装制程无效

专利信息
申请号: 200410046428.6 申请日: 2004-05-31
公开(公告)号: CN1705091A 公开(公告)日: 2005-12-07
发明(设计)人: 黄禄珍 申请(专利权)人: 相互股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H01L23/12;H01L23/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明主要是有关于一种IC封装制程,尤其是一种高分子胶材填充于接脚导线内部的IC封装制程。由于在半导体IC元件结合(固晶,焊线或覆晶)之前,具有填充胶的分离延伸导线或凸块的基板或载板,所以在元件结合时将不受因导线或凸块必须连接或是封胶时底层必须密封特性的限制,而使得半导体IC元件结合及封装测试可以顺利地完成,完全可以克服产能及价格瓶颈。
搜索关键词: ic 封装
【主权项】:
1.一种IC封装制程,其特征在于,其是包括了下列的步骤:(1)准备一基板;(2)形成导线或凸块;(3)填充胶;(4)形成结合点;(5)形成一金属保护层;(6)固晶、焊线或覆晶;(7)利用灌胶来将整个半导体IC予以密封;(8)对基板进行蚀刻以及电镀;(9)测试和切割;和(10)包装。
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