[发明专利]驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法与系统有效
| 申请号： | 200410047206.6 | 申请日： | 2004-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN1700022A | 公开（公告）日： | 2005-11-23 |
| 发明（设计）人： | 张世宝;林殿方 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/28 | 分类号： | G01R1/28;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 文琦;陈肖梅 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法与系统，在决定频率远小于传输时脉的测试时脉以及与测试时脉相应的预期连续脉冲后，依据相应于测试时脉的预期连续脉冲与传输时脉来产生复数个连续数据位元，并在将这些连续数据位元转换成一序列数据串流之后，再将此序列数据串流依传输时脉输出，以形成相应于测试时脉的连续测试脉冲。 | ||
| 搜索关键词： | 驱动 电子元件 测试 脉冲 产生 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种驱动受测电子元件的测试脉冲的产生方法，其特征在于，包含：决定一传输时脉、一预期连续脉冲以及与该预期连续脉冲相应的一测试时脉，该测试时脉用以提供给一受测电子元件，其中该传输时脉的频率大于该测试时脉的频率；产生复数个连续数据位元，该复数个数据位元依据该预期连续脉冲与该传输时脉所产生；转换该复数个连续数据位元成为一序列数据串流；以及输出该序列数据串流至该受测电子元件，该序列数据串流依据该传输时脉以固定频率输出固定位数来形成该预期连续脉冲。
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