[发明专利]用于缺陷管理信息的数据结构有效
| 申请号： | 200410047213.6 | 申请日： | 1999-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN1547203A | 公开（公告）日： | 2004-11-17 |
| 发明（设计）人： | 李明九;朴容澈;郑圭和;申种仁 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/12;G11B20/10;G11B7/00;G11B20/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙志湧;钟强 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种用于缺陷管理信息的数据结构，该缺陷管理信息被记录在光记录介质上或者将由再现或记录设备记录到光记录介质上或从光记录介质再现，其中，该缺陷管理信息包括第一、第二或第三项目的至少一个，第一项目表示用备用块替换缺陷块且备用块的位置已指定，第二项目表示不替换缺陷块且备用块的位置已指定或保持不变，以及第三项目表示不替换缺陷块且备用块的位置未指定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 缺陷 管理 信息 数据结构 | ||
【主权项】：
1.一种用于缺陷管理信息的数据结构，该缺陷管理信息被记录在光记录介质上或者将由再现或记录设备记录到光记录介质上或从光记录介质再现，其中，该缺陷管理信息包括第一、第二或第三项目的至少一个，第一项目表示用备用块替换缺陷块且备用块的位置已指定，第二项目表示不替换缺陷块且备用块的位置已指定或保持不变，以及第三项目表示不替换缺陷块且备用块的位置未指定。
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