[发明专利]光盘片的缺陷区块决定方法以及排除缺陷区块写入方法无效
| 申请号： | 200410048557.9 | 申请日： | 2004-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN1707627A | 公开（公告）日： | 2005-12-14 |
| 发明（设计）人： | 谢仁贵;潘怡全 | 申请（专利权）人： | 建兴电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B15/05 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是为一种缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，得到一第一组缺陷区块；对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，当该两个缺陷区块间所跨过的轨道数小于一预定值时，将该两个缺陷区块间直线所经过的区块定义为一第二组缺陷区块；以及决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。另一方面，本发明是为一种排除缺陷区块写入方法，尤指应用于一光盘写入装置对一光盘片的处理过程。 | ||
| 搜索关键词： | 盘片 缺陷 区块 决定 方法 以及 排除 写入 | ||
【主权项】：
1.一种光盘片的缺陷区块决定方法，应用于一光盘读取装置对一光盘片的处理过程，其特征在于，该缺陷区块决定方法包含下列步骤：对该光盘片进行一第一阶段缺陷侦测手段，得到一第一组缺陷区块；对该光盘片进行一第二阶段缺陷侦测手段，由该第一组缺陷区块中取出两个缺陷区块，参考该两个缺陷区块所决定的一直线延伸所经过的区块，以决定一第二组缺陷区块；以及决定该第一组缺陷区块和该第二组缺陷区块为相对应该光盘片的缺陷区块。
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