[发明专利]薄膜式测试卡具及测试方法

摘要

一种薄膜式测试卡具及测试方法，该薄膜式测试卡具包括：基座、可动件以及驱动单元；针对具有电性接点的待测电子元件，提供至少一个表面设置有测试薄膜的可动件，进而在定位该待测电子元件后，借该可动件的运动，令该测试薄膜上的导电线路接触到该待测电子元件上的电性接点，通过该测试薄膜电性连接的测试设备判别该待测电子元件的测试结果；本发明可避免损伤待测电子元件表面的焊指部，达到自动化且快速测试的目的，同时大幅降低了测试成本与制造难度；本发明具有维修容易与使用寿命高等优点；再者，本发明可保证测试品质，这是现有测试方法无法达到的。

主权项

1.一种薄膜式测试卡具，电性连接具有电性接点的待测电子元件与测试板，其特征在于，该薄膜式测试卡具包括：基座，具有至少一个定位部，以定位该待测电子元件；可动件，表面设置具有导电线路的测试薄膜，通过该可动件的运动，令该测试薄膜上的导电线路接触到该待测电子元件上的电性接点，同时，该测试薄膜上的导电线路电性连接至该测试板上；以及驱动单元，驱动该可动件进行运动。