[发明专利]有用波对干扰波功率比测定电路及其测定方法无效
| 申请号： | 200410049248.3 | 申请日： | 2001-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN1553599A | 公开（公告）日： | 2004-12-08 |
| 发明（设计）人： | 伊大知仁 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹;邵亚丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 通过从有用波功率中减去根据预先求出的SIR特性图而决定的第一校正系数乘干扰波功率所得的值以除去有用波功率中包含的干扰波分量，来校正低SIR区域上的系统固有误差(bias error)。此外，从干扰波功率中减去根据预先决定的SIR特性图而决定的第二校正系数乘有用波功率所得的值以除去干扰波功率中包含的有用波功率，来校正高SIR区域上的系统固有误差。 | ||
| 搜索关键词： | 有用 干扰 功率 测定 电路 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种信号干扰比测定电路，具备：第一测定器，测定接收信号的有用波功率；第二测定器，测定上述接收信号的干扰波功率；信号干扰比计算器，计算信号干扰比；以及校正器，通过从上述干扰波功率中减去校正系数乘上述有用波功率所得的值以除去上述干扰波功率中包含的有用波分量，来校正上述信号干扰比的值低于正确的信号干扰比的区域上的系统固有误差。
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