[发明专利]反射率测量系统无效
| 申请号： | 200410051485.3 | 申请日： | 2004-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN1746662A | 公开（公告）日： | 2006-03-15 |
| 发明（设计）人： | 林志泉 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种反射率测量系统，用于测量一待测物表面的反射率，其包括一光源、一偏振保持光纤、一偏振保持光纤方向耦合器、二分光计、二检测器和一信号处理单元，该光源为无偏振光源，该偏振保持光纤方向耦合器包括一光入射端、一光出射端、一测量端和一参考光输出端，该光入射端与该偏振保持光纤相连。其中，该二分光计的一端分别与自偏振保持光纤方向耦合器的光出射端和参考光输出端相连，另一端与该二检测器相连，该二检测器的一端均与信号处理单元相连，另一端分别与二分光计相连，该测量端对正待测物表面。该反射率测量系统可准确测量待测物表面的反射率，尤其是曲面反射率。 | ||
| 搜索关键词： | 反射率 测量 系统 | ||
【主权项】：
1.一种反射率测量系统，用于测量一待测物表面的反射率，其特征在于：该反射率测量系统包括一无偏振光源、一偏振保持光纤、一偏振保持光纤方向耦合器、二分光计、二检测器和一信号处理单元，其中，该偏振保持光纤与该无偏振光源对正，该偏振保持光纤方向耦合器包括一光入射端、一光出射端、一测量端和一参考光输出端，该光入射端与该偏振保持光纤相连，该测量端对正待测物表面；该二分光计的一端分别与自该偏振保持光纤方向耦合器的光出射端和参考光输出端相连，另一端分别与该二检测器一端相连，该二检测器的另一端均与信号处理单元相连。
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