[发明专利]双色场X射线交叉相关测量仪无效

专利信息
申请号: 200410052782.X 申请日: 2004-07-13
公开(公告)号: CN1587932A 公开(公告)日: 2005-03-02
发明(设计)人: 霍义萍;曾志男;李儒新;徐至展 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种双色场X射线交叉相关测量仪,包括差分泵浦真空系统和高强度超短飞秒激光束,在该飞秒激光束的光路中有分束镜,该分束镜的反射光束经真空系统的CaF窗片进入真空系统,在该反射光束的光路上依次还有时间延迟系统、第一会聚透镜、He气室、第一薄膜片、合束镜、球形多层膜反射镜,所述分束镜的反射光束经第一全反射镜和第二CaF窗片进入真空系统,该透射光束依次经BBO倍频晶体、第二会聚透镜、第二全反射镜、第二薄膜片到达合束镜,该合束镜是一中心开小孔的反射镜,在所述球形多层膜反射镜的反射光方向设有氖气喷嘴和时间飞行电子谱仪,该时间飞行电子谱仪接计算机。本发明能够识别出高次谐波过程中产生的是单个的阿秒XUV脉冲还是阿秒XUV脉冲序列。
搜索关键词: 双色场 射线 交叉 相关 测量仪
【主权项】:
1、一种双色场X射线交叉相关测量仪,包括差分泵浦真空系统(5)和高强度超短飞秒激光束(1),其特征是在该飞秒激光束(1)的光路中有分束镜(10),该分束镜(10)的反射光束(A)经真空系统(5)的第一CaF窗片(14)进入真空系统(5),在该反射光束(A)的光路上依次还有时间延迟系统(8)、第一会聚透镜(12)、He气室(19)、第一薄膜片(17)、合束镜(11)、球形多层膜反射镜(20),所述的分束镜(10)的反射光束(B)经第一全反射镜(7)和真空系统(5)的第二CaF窗片(15)进入真空系统(5),在该透射光束(B)的光路上依次还有BBO倍频晶体(16)、第二会聚透镜(13)、第二全反射镜(9)、第二薄膜片(18)到达合束镜(11),该合束镜(11)是一中心开孔的反射镜,在所述球形多层膜反射镜(20)的反射光方向设有一氖气喷嘴(21)和一时间飞行电子谱仪(22),该时间飞行电子谱仪(22)的输出端接一计算机(23),所述的第一薄膜片(17)和第二薄膜片(18)均是在其中心镀相同大小的圆形锆膜的薄膜片。
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