[发明专利]掺铈焦硅酸镥高温闪烁单晶体的制备方法无效
申请号: | 200410053438.2 | 申请日: | 2004-08-04 |
公开(公告)号: | CN1587447A | 公开(公告)日: | 2005-03-02 |
发明(设计)人: | 赵广军;严成锋;徐军;夏长泰;介明印;何晓明;张连翰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | C30B15/04 | 分类号: | C30B15/04;C30B29/34 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种掺铈焦硅酸镥高温闪烁晶体Lu2(1-x-y-z)Re2xCe2yM2zSi2O7的制备方法,本方法的关键是在配制原料的过程中,引入与CeO2等当量强还原性的Si3N4原料,以及引入痕量的Zr、Ta、或Mg等元素,并在升温化料以及晶体生长过程中将CeO2还原成Ce2O3,再与SiO2和Re2O3等氧化物反应合成含有Ce3+离子的焦硅酸镥高温闪烁单晶体。用本发明方法制备掺铈焦硅酸镥高温闪烁晶体中含Ce4+离子最少,具有较好的晶格完整性和抗辐照性能。 | ||
搜索关键词: | 掺铈焦 硅酸 高温 闪烁 单晶体 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种掺铈焦硅酸镥高温闪烁单晶体的制备方法,祺特征在于该方法包括下列步骤:①按掺杂三价铈离子焦硅酸镥的化学式Lu2(1-x-y-z)Re2xCe2yM2zSi2O7进行配料,其中Re代表除Lu之外的其它稀土元素,M表示Zr、Mg、Ta金属离子;0≤x≤0.3,0.001≤y≤0.05,0.00001≤z≤0.0005,选定x、y、z后,按各组分氧化物对应的摩尔比,即Lu2O3∶Re2O3∶CeO2∶MO2∶SiO2=(1-x-y-z)∶x∶2y∶2z∶2称量初始原料,各初始原料的纯度均大于99.99%,然后再称取和CeO2等当量摩尔的Si3N4原料,即y/6摩尔的Si3N4原料;②将各组分原料充分混合成均匀的混合粉料;③在1-5Gpa的压力下将混合的粉料压成圆柱状的料饼,在低于500℃的温度下进行低温烧结10-24小时;④将烧好的料块装进炉膛中的铱金坩埚内,将炉膛密封并抽真空,真空度约为10-3-10-4Pa,为了保证CeO2被充分还原,在此真空度下采用中频感应加热方式以300-500℃/hr升温速度进行升温化料;⑤当坩埚内的料块升温到1000-1200℃处,在此温度区间进行恒温2-3小时;⑥继续以300-500℃./hr的升温速度升温至1900-2000℃,待料全部熔化后,再在此温度范围内恒温1-2小时;⑦向炉膛内缓慢充入N2气或者Ar气,使炉膛的气压保持在1-1.25atm,然后,在本发明单晶体的结晶温度下,一般在1850-1950℃范围内,采用提拉法的工艺生长铈离子掺杂的焦硅酸镥高温闪烁晶体,在晶体生长过程中,采用纯Lu2Si2O7籽晶,生长速度为1-5mm/hr,晶体转速为10-80RPM,晶体经过下种、缩径、放肩、等径、收尾和降温程序后,晶体生长完成。
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