[发明专利]单晶片检测方法、单晶片组件及其检测系统无效
| 申请号： | 200410054648.3 | 申请日： | 2004-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN1724988A | 公开（公告）日： | 2006-01-25 |
| 发明（设计）人： | 李敬洲;林俊煌 | 申请（专利权）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 | 代理人： | 万学堂 |
| 地址： | 台湾省新竹县新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单晶片检测方法，是以一检测主机耦接一单晶片进行检测，该单晶片于一般操作模式下是以一第一传输速率传输资料，该单晶片检测方法是先对该单晶片设定一检测模式，于该检测模式下，借一不同于该第一传输速率的第二传输速率传输该单晶片待检测的资料予该检测主机，而由该检测主机检测以该第二传输速率所传输的资料。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 检测 方法 组件 及其 系统 | ||
【主权项】：
1.一种单晶片检测方法，是以一检测主机耦接一单晶片进行检测，该单晶片于一般操作模式下是以一第一传输速率传输资料，其特征在于：该单晶片检测方法包含下述步骤：A)对该单晶片设定一检测模式；B)于该检测模式下，借一不同于该第一传输速率的第二传输速率传输该单晶片待检测的资料予该检测主机；及C)由该检测主机检测以该第二传输速率所传输的资料。
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