[发明专利]一种测量磷酸二氘钾单晶氘化率的方法无效
申请号: | 200410054893.4 | 申请日: | 2004-07-29 |
公开(公告)号: | CN1727869A | 公开(公告)日: | 2006-02-01 |
发明(设计)人: | 李国辉;苏根博;庄欣欣;李征东;贺友平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | G01N5/04 | 分类号: | G01N5/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 350002福*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种测量磷酸二氘钾单晶氘化率的方法,涉及磷酸二氘钾(K(DXH1-X)2PO4单晶体的氘化率的简易测量方法。采用NETZSCH STA449C热重分析仪,再设定升温程序为起始温度为30℃以5℃/min的速率缓慢加热至260℃后恒温1小时后,以5℃/min的速率缓慢加热至450℃后恒温1小时,按设定的升温程序加热样品得到一条热重曲线,从曲线上得到的样品的失重率代入公式X(%)=((x/1-x)×58.648-8.948)×100中测得DKDP晶体样品的氘化率。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 磷酸 二氘钾单晶 氘化 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测量磷酸二氘钾单晶氘化率的方法,先用一对空的白金坩埚在NETZSCHSTA449C热重分析仪上做一条基线;再设定升温程序为起始温度为30℃以5℃/min的速率缓慢加热至260℃后恒温1小时后,以50℃/min的速率缓慢加热至450℃后恒温1小时;在一个白金坩埚中加入10-50mg的DKDP晶体样品,样品保持新鲜的表面,按设定的升温程序加热样品得到一条热重曲线,从曲线上得到的样品的失重率代入公式 中测得DKDP晶体样品的氘化率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院福建物质结构研究所,未经中国科学院福建物质结构研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410054893.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:编辑选择控件
- 下一篇:用于转化氢氟烃的材料与方法