[发明专利]高密度光学记录介质的摆动解调有效
申请号: | 200410054943.9 | 申请日: | 2004-07-26 |
公开(公告)号: | CN1591593A | 公开(公告)日: | 2005-03-09 |
发明(设计)人: | 马科·乔治 | 申请(专利权)人: | 汤姆森特许公司 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 吕晓章;马莹 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于光学纪录介质的摆动信号的ADIP数据解调的方法,其中所述的摆动信号包括不同的摆动周期类型,本发明还涉及使用所述方法从记录介质读出和/或向记录介质写入的设备。按照本发明所述的方法包括以下步骤:将摆动信号中的谐波的频率和/或相位偏差转换为幅度偏差;检测该幅度偏差;并且,从检测到的幅度偏差测定当前摆动周期的类型。 | ||
搜索关键词: | 高密度 光学 记录 介质 摆动 解调 | ||
【主权项】:
1、一种用于光学纪录介质的摆动信号的ADIP数据的解调方法,其中所述摆动信号包括有不同的摆动周期类型,所述方法包括以下步骤:将摆动信号中的谐波的频率和/或相位偏差转换为幅度偏差,检测该幅度偏差,并且从检测到的幅度偏差检测当前摆动周期的类型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于汤姆森特许公司,未经汤姆森特许公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410054943.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于制造有缝焊剂芯焊丝的方法
- 下一篇:用于检测平台预置凹坑的设备和方法