[发明专利]预检测数据丢失的闪速存储器无效

专利信息
申请号: 200410055056.3 申请日: 2004-04-29
公开(公告)号: CN1591693A 公开(公告)日: 2005-03-09
发明(设计)人: 托马斯·阿克杰 申请(专利权)人: 戴洛格半导体公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G11C16/34
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王志森;黄小临
地址: 联邦德国泰*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种检测并纠正非易失性存储装置中的弱编程单元的新方法。提供多个非易失性存储单元。一读取所选单元的装置将所选单元的特性和基准单元的特性比较。如所选单元超过基准单元则所选单元的读取状态是高。如所选单元小于基准单元则所选单元的读取状态是低。随着基准单元被偏置到第一值,通过读取所选单元获得第一读取状态。随着基准单元被偏置到一大于第一值的第二值,通过读取所选单元获得第二读取状态。如第一和第二读取状态不匹配,则所选单元被标记为弱编程的高。随着基准单元被偏置到一小于第一值的第三值,通过读取所选单元获得第三读取状态。如第一和第三读取状态不匹配,则所选单元被标记为弱编程的。如所选单元被弱编程,则刷新所选单元。
搜索关键词: 预检 数据 丢失 存储器
【主权项】:
1.一种检测并纠正非易失性存储装置中的弱编程单元的方法,包括:提供多个非易失性存储单元;提供一种装置,其通过将所述所选单元的特性和一个基准单元的特性进行比较来读取所选单元,其中如果所述所选单元超过所述基准单元,则所述所选单元的读取状态为高,并且如果所述所选单元小于所述基淮单元,则所述所选单元的读取状态为低;通过用被偏置到第一值的所述基准单元读取所述所选单元来获得第一读取状态;通过用被偏置到第二值的所述基准单元读取所述所选单元来获得第二读取状态,其中所述第二值大于第一值;如果所述第一和第二读取状态不匹配,就把所述所选单元标记为弱编程、高;通过用被偏置到第三值的所述基准单元读取所述所选单元来获得第三读取状态,其中所述第三值小于第一值;如果所述第一和第三读取值不匹配,就把所述所选单元标记为弱编程、低;如果所述所选单元是被弱编程的,就刷新所述所选单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于戴洛格半导体公司,未经戴洛格半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410055056.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top