[发明专利]透明性薄膜的异物检查方法无效
| 申请号： | 200410055732.7 | 申请日： | 2004-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN1580749A | 公开（公告）日： | 2005-02-16 |
| 发明（设计）人： | 筱塚淳彦;本多聪;出口修央 | 申请（专利权）人： | 住友化学工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/896 | 分类号： | G01N21/896;G01N21/88;G01N21/84 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供可以去除透明性薄膜表面附着的异物，检测异物个数，高精度且迅速判定透明性薄膜的好坏的透明性薄膜的异物检查方法。该方法中，在光源和摄象机之间，使透明性薄膜在以正交尼科耳形式配置的2张偏光板之间移动，用摄象机拍摄透过该薄膜的来自光源的光，通过其图象处理检查透明性薄膜中的异物，其特征在于，根据异物的形状及异物的信号强度进行透明性薄膜表面附着的异物的去除处理后，检测异物个数，判定透明性薄膜的好坏。 | ||
| 搜索关键词： | 透明性 薄膜 异物 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种透明性薄膜的异物检查方法，在光源和摄象机之间，使透明性薄膜在以正交尼科耳形式配置的2张偏光板之间移动，用摄象机拍摄透过该薄膜的来自光源的光，通过其图象处理检查透明性薄膜中的异物，其特征在于，根据异物的形状及异物的信号强度进行透明性薄膜表面附着的异物的去除处理后，检测异物个数，判定透明性薄膜的好坏。
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