[发明专利]半导体电路及测试、监控及接近应用设定半导体电路之方法

摘要

本发明系相关于一种半导体电路(1)，以及用于测试、监控、以及接近应用地设定该半导体电路(1)之方法，该半导体电路(1)系具有一标准接口(6)，以用于在一正常操作中进行外部数据、地址、及/或指令的交换，以及一另一测试接口(7)，其系被提供用于一测试操作。并且，该半导体电路系具有一BIST控制器(11)，以用于起始、测试、及接近应用地设定该半导体组件(2)，一只读非易失性记忆体(9)，在其中系储存有用于架构以及用于测试该半导体组件之一标准程序代码、标准测试、及标准启动参数，一可程序化非易失性记忆体(10)，在其中系储存有用于架构以及用于测试该半导体组件之至少一程序代码、功能性测试、操作参数、测试以及启动参数，以及一易失性记忆体(17)，其系被配置于该BIST控制器。

主权项

1.一种具有一半导体组件以及配置于该半导体组件之一BIST(Built-In Self-Test，内建自我测试)单元的半导体电路，其中，该半导体电路系包括一标准接口，以用于在一正常操作中进行外部数据、地址、及/或指令的交换，以及一另一测试接口，其系被提供用于一测试操作，而该半导体电路更包括：-一BIST控制器，用于起始、测试、及接近应用地设定该半导体组件；-一只该非易失性记忆体，在其中系储存有用于架构之一标准程序代码以及用于测试该半导体组件之标准测试及标准启动参数；-一可程序化非易失性记忆体，在其中系储存有用于架构之至少一程序代码以及用于测试该半导体组件之功能性测试、操作参数、测试以及启动参数；以及-一易失性记忆体，其系被配置于该BIST控制器，并且，在启动期间，该标准程序代码或该至少一程序代码系可以为了执行而被加载其中，该BIST控制器系于启动期间执行一架构，并且在一接续之正常操作中，藉由执行功能性测试而随意地执行该半导体组件之一测试，以及将在测试期间所决定之资料，于该可程序化非易失性记忆体之中储存为操作、测试及/或启动参数，及/或将其经由该半导体电路之该标准接口或该测试接口而外部地输出。