[发明专利]用于RRAM的旋转涂布Pr1-xCaxMnO3薄膜的高温退火无效
申请号: | 200410056667.X | 申请日: | 2004-08-13 |
公开(公告)号: | CN1581435A | 公开(公告)日: | 2005-02-16 |
发明(设计)人: | 张风燕;庄维佛;D·R·埃文斯;许胜籐 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/82 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 郭煜;刘冬 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 形成用于RRAM的、具有双极电脉冲切换特性的PCMO薄膜。本发明的在RRAM器件上形成PCMO薄膜的方法包括:在衬底上的金属隔离层上形成底部电极;利用PCMO前体,在底部电极上旋转涂布Pr1-xCaxMnO3层;在1道或以上的焙烤工序中焙烤该PCMO薄膜;在各旋转涂布工序之后,在第1退火工序中退火该PCMO薄膜;反复进行旋转涂布工序、焙烤工序及第1退火工序,直到使该PCMO薄膜达到期望的厚度;在第2退火工序中退火该PCMO薄膜,由此生成具有0.2≤X≤0.5的、Pr1-xCaxMnO3结晶构造的PCMO薄膜。 | ||
搜索关键词: | 用于 rram 旋转 pr sub ca mno 薄膜 高温 退火 | ||
【主权项】:
1.一种在RRAM器件上形成PCMO薄膜的方法,该方法包括:准备衬底;在该衬底上堆积金属隔离层;在该金属隔离层上形成底部电极;在醋酸溶剂中利用由Pr(CH3CO2)3·H2O、Ca(CH3CO2)2·H2O及Mn(III)(CH3CO2)3·2H2O构成的PCMO前体,在该底部电极上旋转涂布Pr1-XCaXMnO3(PCMO)层;在包括在约50℃~300℃的温度下约10秒~1小时焙烤的至少1道焙烤工序中,焙烤该PCMO薄膜;在各旋转涂布工序之后,在约400℃~900℃温度下的约10秒~1小时的第1退火工序中,退火该PCMO薄膜;反复进行该旋转涂布工序、该至少1道的焙烤工序及该第1退火工序,直到使该PCMO薄膜达到期望的厚度;在约450℃~1000℃温度下的约1分钟~24小时的第2退火工序中,退火该PCMO薄膜,由此生成具有0.2≤X≤0.5的、Pr1-XCaXMnO3结晶构造的PCMO薄膜;堆积顶部电极;使该顶部电极形成图案;完成该RRAM器件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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