[发明专利]失真校正的磁共振测量和磁共振设备有效
申请号: | 200410056679.2 | 申请日: | 2004-08-12 |
公开(公告)号: | CN1580808A | 公开(公告)日: | 2005-02-16 |
发明(设计)人: | 瓦勒·坎达;罗伯特·克里格;奥利弗·施雷克 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01R33/565 | 分类号: | G01R33/565 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹;邵亚丽 |
地址: | 联邦德*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及利用磁共振设备(31)和失真校正算法(9)进行失真校正的磁共振检查方法和实施该方法的磁共振设备。该算法采用描述测量使用磁场的系数(11)。在选择检查区域(39,39’,39A)之后,利用失真校正算法(9)和描述磁场的系数(11)来确定校正所需的测量区域(27,49)。在该测量区域内(27,49)进行磁共振测量。借助失真校正算法产生检查区域(39,39’,39A)的失真校正的磁共振图像。在磁共振设备(31)显示器(47)上可以显示检查区域(39,39’,39A)和测量区域(27,49)及测量时间(T,TK)。这种磁共振测量在磁共振图像中不包含由于失真而未能测量的图像元素(41,55)。 | ||
搜索关键词: | 失真 校正 磁共振 测量 设备 | ||
【主权项】:
1.一种借助失真校正算法(9)、利用磁共振设备(31)实施失真校正的磁共振检查的方法,该失真校正算法(9)采用描述测量中使用的磁场的系数(11),具有下列方法步骤:-选择检查区域(39,39’,39A),-在引入失真校正算法(9)和用于描述磁场的系数(11)的条件下确定校正所需的测量区域(27,49),-在该测量区域(27,49)内进行磁共振测量,-产生所述检查区域(39,39’,39A)的经过失真校正的磁共振图像。
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