[发明专利]间隙层为NiPRe合金的薄膜磁头无效
申请号: | 200410057463.8 | 申请日: | 2004-08-12 |
公开(公告)号: | CN1581298A | 公开(公告)日: | 2005-02-16 |
发明(设计)人: | 矢泽久幸 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
主分类号: | G11B5/31 | 分类号: | G11B5/31 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜磁头,特别通过使作为间隙层使用的NiPRe合金的组成比适当化,可以提高作为间隙层所必需的特性及物性。通过将作为间隙层使用的NiPRe合金的组成比设为由三元图上的边界线A至E包围的范围内,就可以镀膜形成耐化学腐蚀性优良,并且即使经高温加热也能够良好地保持非磁性状态,并且可以抑制与磁极层的界面上的元素扩散的NiPRe合金。 | ||
搜索关键词: | 间隙 nipre 合金 薄膜 磁头 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜磁头,其特征是,具有设于与记录介质的相对面一侧的磁极部、向所述磁极部导入记录磁场的磁路构成部、用于产生记录磁场的线圈层,所述磁极部至少由间隙层和在其上形成的上部磁极层构成,所述间隙层是由NiPRe合金镀膜形成的,NiPRe合金的组成比处于在图4及图5所示的三元图中由连接a点(Ni∶P∶Re)=(84质量%∶16质量%∶0质量%)、和b点(Ni∶P∶Re)=(72质量%∶0质量%∶28质量%)的直线的边界线A(包括边界线A上)、Re的组成比为2质量%的直线的边界线B(包括边界线B上)、Re的组成比为46质量%的直线的边界线C(包括边界线C上)、P的组成比为4质量%的直线的边界线D(包括边界线D上)、P的组成比为18质量%的直线的边界线E(包括边界线E上)所包围的范围内。
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