[发明专利]间隙层为NiPRe合金的薄膜磁头无效

专利信息
申请号: 200410057463.8 申请日: 2004-08-12
公开(公告)号: CN1581298A 公开(公告)日: 2005-02-16
发明(设计)人: 矢泽久幸 申请(专利权)人: 阿尔卑斯电气株式会社
主分类号: G11B5/31 分类号: G11B5/31
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种薄膜磁头,特别通过使作为间隙层使用的NiPRe合金的组成比适当化,可以提高作为间隙层所必需的特性及物性。通过将作为间隙层使用的NiPRe合金的组成比设为由三元图上的边界线A至E包围的范围内,就可以镀膜形成耐化学腐蚀性优良,并且即使经高温加热也能够良好地保持非磁性状态,并且可以抑制与磁极层的界面上的元素扩散的NiPRe合金。
搜索关键词: 间隙 nipre 合金 薄膜 磁头
【主权项】:
1.一种薄膜磁头,其特征是,具有设于与记录介质的相对面一侧的磁极部、向所述磁极部导入记录磁场的磁路构成部、用于产生记录磁场的线圈层,所述磁极部至少由间隙层和在其上形成的上部磁极层构成,所述间隙层是由NiPRe合金镀膜形成的,NiPRe合金的组成比处于在图4及图5所示的三元图中由连接a点(Ni∶P∶Re)=(84质量%∶16质量%∶0质量%)、和b点(Ni∶P∶Re)=(72质量%∶0质量%∶28质量%)的直线的边界线A(包括边界线A上)、Re的组成比为2质量%的直线的边界线B(包括边界线B上)、Re的组成比为46质量%的直线的边界线C(包括边界线C上)、P的组成比为4质量%的直线的边界线D(包括边界线D上)、P的组成比为18质量%的直线的边界线E(包括边界线E上)所包围的范围内。
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