[发明专利]半导体集成电路无效
| 申请号： | 200410057982.4 | 申请日： | 2004-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN1591034A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | 条昇子;山登猛 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 岳耀锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种半导体集成电路，能够不遗漏在晶片级老化测试中未能观测的端子上的不合格情况地对全部端子进行观测。该半导体集成电路具有逻辑电路，且包括：用于对上述半导体集成电路提供老化测试用信号(100)的多个SCAN输入端子(1、21)；把上述老化测试用信号(100)作为输入，在测试上述逻辑电路(26)时使用的测试电路(20)；用于在外部观测上半导体集成电路的输出信号的SCAN输出端子(2、22)；以及把上述测试电路(20)的工作结果输出信号(103)作为输入的“异”电路(4、24)，从上述SCAN输出端子(2、22)输出上述“异”电路(4、24)的工作结果输出信号(104)，由此，基本上能够对于在半导体集成电路中存在的全部输出端子观测输出信号，能够不遗漏全部不合格情况地进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，具有逻辑电路，其特征在于包括：用于对上述半导体集成电路提供测试用输入信号的多个测试输入端子；把上述测试用输入信号作为输入，测试上述逻辑电路的测试电路；用于在外部观测上述半导体集成电路的输出信号的测试输出端子；以及把上述测试电路的输出信号作为输入的“异”电路，从上述测试输出端子输出上述“异”电路的输出信号。
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