[发明专利]电容检测电路及其检测方法以及指纹传感器无效
| 申请号： | 200410058721.4 | 申请日： | 2004-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN1576862A | 公开（公告）日： | 2005-02-09 |
| 发明（设计）人： | 梅田裕一;斋藤润一 | 申请（专利权）人： | 阿尔卑斯电气株式会社 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G06K9/62 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 刘建 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供一种电容检测电路及其检测方法以及指纹传感器。区域型传感器部(1)将多条行布线和列布线配置成矩阵状，在布线的交差点的附近产生微小电容。电容检测电路(4a)检测区域型传感器部(1)的电容。列布线驱动部(41)向列布线输出第一电压和接下来的第二电压。开关电容电路(42)向列布线施加了第一电压时，输出与电容充电放电对应的第三电压，向列布线施加了第二电压时，输出与电容充电放电对应的第四电压。运算控制电路(47)对各交差点的电容运算第三电压和第四电压之差。这样，即使不使用成为测定误差的原因的参照电容，也可以可靠捕捉微小电容。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 检测 电路 及其 方法 以及 指纹 传感器 | ||
【主权项】：
1、一种电容检测电路，其用于具有多条行布线和列布线相向形成的矩阵状的检测线的区域型传感器中，检测所述列布线以及行布线交差的各交差点附近的微小电容，其特征在于，包括：列布线驱动装置，其向所述列布线输出上升到第一电压然后下降到第二电压的信号；行电压输出装置，其在所述列布线被所述第一电压驱动时输出与所述交差点的电容充电的电流对应的第三电压，而在所述列布线被所述第二电压驱动时输出与所述交差点的电容放电的电流对应的第四电压；和运算装置，其运算从所述行电压输出装置输出的第三电压和第四电压之差；对所述列布线以及行布线交差的每个交差点求出所述第三电压和第四电压之差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿尔卑斯电气株式会社，未经阿尔卑斯电气株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200410058721.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
