[发明专利]光学储存/读取装置的信号偏差量测系统及量测方法无效
申请号: | 200410059295.6 | 申请日: | 2004-06-16 |
公开(公告)号: | CN1710649A | 公开(公告)日: | 2005-12-21 |
发明(设计)人: | 陈徵君;陈伯睿;陈昭仁 | 申请(专利权)人: | 建兴电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/095 | 分类号: | G11B7/095 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种利用于光学储存/读取装置的信号偏差量测系统以及用以量测信号偏差的方法,由光学读写头读取反射自光学储存媒体的辨轨光信号,以辨识所需读取光学储存媒体表面的轨道,辨轨光信号包含主光信号以及侧光信号。该系统以及方法先取得主光信号以及侧光信号,以分别产生主光信号波形以及侧光信号波形。接着合并主光信号波形以及侧光信号波形以产生一振幅波形函数。最后根据振幅波形函数,计算出主光信号以及侧光信号的相位差。进一步,根据侧光信号波形与主光信号波形的相对位置,决定机构的调整方向。 | ||
搜索关键词: | 光学 储存 读取 装置 信号 偏差 系统 方法 | ||
【主权项】:
1、一种光学储存/读取装置的信号偏差量测方法,该光学储存/读取装置包含一光学读写头,由该光学读写头读取反射自一光学储存媒体的辨轨光信号,以辨识所需读取该光学储存媒体表面的轨道,该辨轨光信号包含一主光信号以及一侧光信号,其特征在于,该方法包含下列步骤:取得该主光信号以及该侧光信号;根据该主光信号以及该侧光信号,分别产生该主光信号波形以及该侧光信号波形;合并该主光信号波形以及该侧光信号波形,以产生一振幅波形函数;以及根据该振幅波形函数,计算出该主光信号以及该侧光信号的相位差。
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