[发明专利]电子产品的测试装置及方法无效
申请号: | 200410062638.4 | 申请日: | 2004-06-30 |
公开(公告)号: | CN1715942A | 公开(公告)日: | 2006-01-04 |
发明(设计)人: | 梁景有;陈顺料 | 申请(专利权)人: | 华泰电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 董惠石 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种电子产品的测试装置及方法,用以将该电子产品连接于一测试连接部。该电子产品包含一连接器。该测试装置包含一上机具、一下机具,及一控制机构。该下机具对应于该上机具,并承载该电子产品,藉由控制机构的控制使该测试连接部沿一第一方向接合于该电子产品的该连接器,并且同时该上机具沿垂直于该第一方向的一第二方向压合该电子产品于该下机具上,从而克服了现有技术的缺陷,减少测试步骤及测试所需时间。 | ||
搜索关键词: | 电子产品 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电子产品的测试装置,用以测试该电子产品,其特征在于,该测试装置包含:一测试连接部;一下机具,用以承载该电子产品,与该测试连接部中之一者可沿一第一方向相对另一者移动;一上机具,可沿一第二方向向该下机具移动;以及一控制机构,用以连动该上机具,及连动下机具与测试连接部的该者,以进行第一、二方向的移动,而使该上机具与该测试连接部抵接于该电子产品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华泰电子股份有限公司,未经华泰电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410062638.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:可适用不同IC盛装对象的IC检测机
- 下一篇:智能防火档案资料柜