[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 200410062875.0 | 申请日: | 2004-06-30 |
公开(公告)号: | CN1610092A | 公开(公告)日: | 2005-04-27 |
发明(设计)人: | 上杉胜洋;前田清司;田原贤治 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/301;H01L21/3205 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯;叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体装置(101)包括:具有主表面的硅基板;在主表面上形成的存储单元;主表面上形成的覆盖存储单元的层间绝缘膜。层间绝缘膜具有顶面和周缘(54)。在层间绝缘膜上,形成位于存储单元和周缘(54)间、与主表面平行延伸且相互间隔并沿规定的方向延伸的沟(11m及11n)和从沟(11m及11n)分支、沿与沟(11m及11n)延伸方向不同的方向延伸的沟(11p)。半导体装置(101)还具备填充沟(11m、11n及11p)的金属膜(12m、12n及12p)。可提供可确实防止层间绝缘膜的周缘向内部传播的裂缝的进展的可靠性高的半导体装置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:具有主表面的半导体基板;上述主表面上形成的半导体元件;以及上述主表面上形成的用于覆盖上述半导体元件的层间绝缘膜,它具有顶面和从上述顶面连接到上述主表面的周缘,在上述层间绝缘膜上,形成位于上述半导体元件和上述周缘之间、与上述主表面平行延伸且相互间隔并沿规定的方向延伸的带状的第1及第2沟部和从上述第1及第2沟部分支、沿与上述第1及第2沟部延伸方向不同的方向延伸的多个第3沟部,还具备填充上述第1、第2及第3沟部的金属。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造