[发明专利]记录/重放装置和记录/重放方法无效
申请号: | 200410063147.1 | 申请日: | 2004-05-08 |
公开(公告)号: | CN1551170A | 公开(公告)日: | 2004-12-01 |
发明(设计)人: | 田中靖人;藤家和彦;藤田五郎;坂本哲洋;三木刚 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G11B11/105 | 分类号: | G11B11/105 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 付建军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 用光头将信息记录到磁光存储介质和从磁光存储介质重放信息,该介质具有置换层、分离层和记录层,并以此顺序层叠。该置换层由横向磁膜来定义,与记录层相比,该横向磁膜的畴壁矫顽力相对较小而畴壁迁移率较大,分离层由磁层来定义,该磁层的居里温度低于置换层和记录层。设置最佳补偿值,用于使光头跟踪磁光存储介质上提供的记录轨迹。 | ||
搜索关键词: | 记录 重放 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种记录/重放装置,用于将信息记录到磁光存储介质和从磁光存储介质再现信息,该介质具有置换层、分离层和记录层,并以此顺序层叠,置换层包括横向磁膜,与记录层相比,该横向磁膜的畴壁矫顽力相对较小而畴壁迁移率较大,分离层包括磁层,该磁层的居里温度低于置换层和记录层,该记录/重放装置包括:头装置,用激光照射磁光存储介质,并检测来自磁光存储介质的反射光信息;记录处理装置,将记录数据提供到头装置;再现处理装置,根据头装置检测到的反射光信息获得再现信息;跟踪伺服装置,根据由头装置检测到的反射光信息产生的跟踪误差信号,来执行跟踪伺服操作;补偿装置,将补偿施加到跟踪误差信号;和控制装置,用于执行测试操作,其中控制装置控制记录处理装置,使得当补偿装置提供的补偿值被设为特定值时,头装置在磁光存储介质上执行测试图案的记录;控制测试图案的再现,在保持补偿值的同时,由头装置和再现处理装置执行所述再现;并检测至少一个再现信号质量,其中当逐步改变补偿值时,控制装置执行测试操作,确定最佳补偿值,并将补偿装置的补偿值设置到确定的最佳补偿值。
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