[发明专利]处理从全息介质再现的全息数据的装置和方法无效
申请号: | 200410063377.8 | 申请日: | 2004-07-08 |
公开(公告)号: | CN1617056A | 公开(公告)日: | 2005-05-18 |
发明(设计)人: | 姜秉福 | 申请(专利权)人: | 株式会社大宇电子 |
主分类号: | G03H1/26 | 分类号: | G03H1/26 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在处理从全息介质再现的全息数据的装置中,数据排列单元用于根据页面以M1×M2数据像素的形式排列输入数据并由此产生已排列数据。然后,全息数据探测器输出包括探测数据图像的页面图像,已排列数据的每个数据像素与探测数据图像的P1×P2像素图像相对应。继而,像素调整探测器查明探测数据图像的调整的垂直长度V和调整的水平长度H。最后,取样单元根据探测数据图像的水平长度和/或垂直长度是否增加或减少以不同的间隔提取图像像素。 | ||
搜索关键词: | 处理 全息 介质 再现 数据 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于处理从全息介质再现的全息数据的装置,包括:一数据排列单元,用于根据页面以M1×M2数据像素形式排列输入数据并由此产生已排列数据,M1和M2分别为正整数;一全息数据探测器,用于输出包括探测数据图像的页面图像,该已排列数据的每个数据像素与该探测数据图像的P1×P2图像像素相对应,并且P1和P2分别为正整数;一像素调整探测器,用于查明该探测数据图像的调整的垂直长度V和调整的水平长度H,V和H分别为整数;以及一取样单元,用于(a)将该探测数据图像分隔为相等的(|V|+1)×(|H|+1)部分;(b)若先前和当前取样的图像像素都属于所分隔的(|V|+1)×(|H|+1)部分中的同一部分,则分别在垂直方向和水平方向上每隔P1和P2图像像素提取图像像素;以及(c)若先前和当前取样图像像素位于彼此不同的部分,则(c1)如果该探测数据图像的该垂直长度增加,则在垂直方向上每隔(P1+1)图像像素取样图像像素,(c2)如果该探测数据图像的该水平长度增加,则在水平方向上每隔(P2+1)图像像素取样图像像素,(c3)如果该探测数据图像的该垂直长度减小,则在垂直方向上每隔(P1-1)图像像素取样图像像素,(c4)如果该探测数据图像的该水平长度减小,则在水平方向上每隔(P2-1)图像像素取样图像像素。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社大宇电子,未经株式会社大宇电子许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410063377.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。