[发明专利]分析和识别制造零件中的缺陷的系统及方法有效
| 申请号： | 200410063633.3 | 申请日： | 2004-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN1576829A | 公开（公告）日： | 2005-02-09 |
| 发明（设计）人： | S·T·尚卡拉帕;G·A·莫尔;M·S·迪内斯;B·W·拉休克;R·C·麦克法兰;E·L·迪克松 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/84 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于识别被检测零件中的缺陷的系统和方法包括生成该零件的三维表示，这种三维表示包括对应于零件上不同位置的三维空间坐标，并且使三维空间坐标与被检测零件的对应位置对齐。生成被检测零件的图像，以及从生成图像中识别被检测零件中的缺陷。缺陷的位置与相应的三维空间坐标相关，以及控制某个装置利用相应三维空间坐标的信息在缺陷位置上对被检测零件执行操作。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 识别 制造 零件 中的 缺陷 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于识别被检测零件中的缺陷的方法，包括：生成所述零件的三维表示，所述三维表示包括对应于所述零件上的不同位置的三维坐标(204)；使所述三维空间坐标与被检测零件的对应位置对齐(204)；生成所述被检测零件的图像(206)；从所述生成图像识别所述被检测零件的缺陷(210)；把所述缺陷的位置与对应的三维空间坐标相关(214)；控制装置利用所述对应三维空间坐标的信息在所述缺陷位置上对所述被检测零件执行操作(216)。
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