[发明专利]光束特性评价装置有效

专利信息
申请号: 200410064490.8 申请日: 1998-06-25
公开(公告)号: CN1573596A 公开(公告)日: 2005-02-02
发明(设计)人: 尾崎绅一;阿部克志;高桥伸公 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G03G15/04 分类号: G03G15/04
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开一种光束特性评价转置,光束特性评价方法的特性在于通过使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的方式,对光束所需要的特性进行评价,其可正确地对光束直径或光束形状进行评价。
搜索关键词: 光束 特性 评价 装置
【主权项】:
1.一种光束特性评价装置,其是用于采用通过使对被扫描面进行线性扫描用的激光光源给出的光束在设置于被扫描相应面处的区域型摄象元件上成象的方式,对所述光束的所需要的特性进行评价的评价方法,该装置的特征是具有:确定所述光束在所述被扫描面上沿主扫描方向和副扫描方向上的设计时预先确定的基准位置用的基准激光光源,保持该基准激光光源用的保持部件,以可转动方式保持着该保持部件且用于确定所述的基准激光光源的转动角度位置的角度位置确定部件,按使设计时预先确定的光束出射光线与所述保持部件的转动中心相一致的方式使所述的角度位置确定部件实施定位确定用的位置确定基准基座,并且由所述的区域型摄象元件在所述保持部件以所述转动中心为中心转动时的至少两个转动角度位置处对由基准激光光源出射的基准光束实施接收的方式,特别确定在该区域型摄象元件上的、与所述基准位置相当的基准象素。
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