[发明专利]合金靶材磁控溅射法制备CoSi2薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 200410066585.3 申请日: 2004-09-23
公开(公告)号: CN1304630C 公开(公告)日: 2005-05-11
发明(设计)人: 程凡雄;姜传海;吴建生;董显平;单爱党 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种合金靶材磁控溅射法制备CoSi2薄膜的方法,用于材料制备技术领域。本发明首先把Co和Si按照CoSi2化学计量比成分配比,通过真空熔炼制备合金,利用线切割制备符合溅射仪要求的合金靶材,充分利用熔炼炉的电磁搅拌作用,使靶材具有均匀的成分,并且具有标准的立方CaF2结构,然后把靶材装入溅射仪中,在清洗过的基底上制备薄膜,薄膜与靶材成分接近,通过调整功率和溅射速度以及后续处理,制备得到CoSi2薄膜。本发明可制备具有各种状态的CoSi2薄膜,薄膜经过处理具有良好的导电性、热稳定性以及低应力水平,同时这种方法生产薄膜能够提高生产效率。
搜索关键词: 合金 磁控溅射 法制 cosi sub 薄膜 方法
【主权项】:
1、一种合金靶材磁控溅射法制备CoSi2薄膜的方法,其特征在于,首先把Co和Si按照CoSi2化学计量比成分配比,通过真空熔炼制备合金,利用线切割制备符合溅射仪要求的合金靶材,充分利用熔炼炉的电磁搅拌作用,使靶材具有均匀的成分,并且具有标准的立方CaF2结构,然后把靶材装入溅射仪中,在清洗过的基底上制备薄膜,薄膜与靶材成分接近,通过调整功率和溅射速度以及后续处理,制备得到CoSi2薄膜。
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