[发明专利]用于选择测试模式输出通道的测试布置及方法无效
| 申请号： | 200410068342.3 | 申请日： | 2004-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN1591035A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·芬特斯;比约恩·弗拉赫;克劳斯·霍夫曼;安德列斯·洛吉希;沃尔夫冈·鲁夫;马丁·施内尔 | 申请（专利权）人： | 印芬龙科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱进桂 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于测试待测电路单元(101、101a～101n)的测试布置，具有：测试设备，用于保持待测电路单元；输入/输出通道(DQ0～DQn)，用于将所述待测电路单元与所述测试设备相连，以及用于与所述待测电路单元交换测试数据；以及测试模式输出通道(103、103a～103n)，用于输出来自所述待测电路单元的测试结果数据(104、104a～104n)，其中在所述待测电路单元中设置至少一个转向单元(102、102a～102n)，用于将所述测试模式输出通道之一与所述输入/输出通道之一相连，从而可以将从所述待测电路单元)输出的所述测试结果信号从所述待测电路单元转向所述输入/输出通道中指定的一个。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 选择 测试 模式 输出 通道 布置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于测试待测电路单元(101、101a～101n)的测试布置，具有：a)测试设备，用于保持待测电路单元(101、101a～101n)；b)输入/输出通道(DQ0～OQn)，用于将所述待测电路单元(101、101a～101n)与所述测试设备相连，以及用于与所述待测电路单元(101、101a～101n)交换测试数据；以及c)测试模式输出通道(103、103a～103n)，用于输出来自所述待测电路单元(101、101a～101n)的测试结果数据(104、104a～104n)，其中每个所述待测电路单元(101、101a～101n)具有：d)至少一个转向单元(102、102a～102n)，用于将所述测试模式输出通道(103、103a～103n)之一与所述输入/输出通道(DQ0～DQn)之一相连，从而可以将从所述待测电路单元(101、101a～101n)输出的所述测试结果信号(104、104a～104n)从所述待测电路单元(101、101a～101n)转向所述输入/输出通道(DQ0～DQn)中指定的一个。
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