[发明专利]编程一次性可编程的存储器器件的装置和方法无效

专利信息
申请号: 200410068371.X 申请日: 2004-08-31
公开(公告)号: CN1604233A 公开(公告)日: 2005-04-06
发明(设计)人: 拉恩伯·赛恩;理查德·J·麦克帕特兰德;罗斯·A·柯勒 申请(专利权)人: 艾格瑞系统有限公司
主分类号: G11C17/16 分类号: G11C17/16
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李德山
地址: 美国宾*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 断开形成在半导体器件上熔丝的方法和装置。该装置包括由CMOS器件形成和具有一个或两个控制端的半导体开关元件,这些控制端用于允许电流经过半导体开关元件流到熔丝,从而断开该熔丝。
搜索关键词: 编程 一次性 可编程 存储器 器件 装置 方法
【主权项】:
1.一种通过可控地使电流通过集成电路熔丝而断开集成电路熔丝的装置,包括:可控的大容量半导体器件;用于控制大容量半导体器件的打开状态的元件;和其中响应于大容量半导体器件的打开状态,电流通过熔丝,以便断开熔丝。
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