[发明专利]用于测试存储器件的方法无效
| 申请号： | 200410068416.3 | 申请日： | 2004-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN1574102A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 金泰润 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 黄小临;王志森 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通过仅仅在激活之后才自动执行预充电来利用长周期时钟信号测试存储器件的方法。在该方法中，仅仅在施加了用于激活存储体的信号时的外部信号的下降沿，才自动产生用于对存储器件的存储体进行预充电的信号。因此，本发明确保了存储器件的稳定测试，从而缩短了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 存储 器件 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试存储器件的方法，包括步骤：将外部时钟施加到存储器件中；施加用于控制存储器件的操作的命令信号；产生相应于命令信号的第一脉冲信号；以及施加用于测试存储器件的测试模式信号，其中，如果测试模式处于第一电平，那么仅仅当命令信号为预充电命令信号时，才对存储器件的存储体进行预充电，并且如果测试模式处于第二电平，那么即使当命令信号不是预充电命令信号时，也自动执行存储体的预充电操作。
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