[发明专利]半导体集成电路装置

摘要

以往，当利用存储器BIST电路进行烧入测试时，必须从外部对存储器BIST电路的复位动作进行控制。本发明中，在存储器宏的烧入测试时利用存储器BIST电路，BIST复位控制电路检测从存储器BIST电路来的存储器BIST测试结束信号，并自动地进行存储器BIST电路的复位。因此，可以利用存储器BIST电路对存储器宏进行反复连续的测试，可以实施存储器BIST电路的烧入测试。

主权项

1.一种半导体集成电路装置，其特征在于，具有：存储器部；测试上述存储器部的存储器自测试电路；以及对上述存储器自测试电路进行复位的复位电路，上述存储器自测试电路包括：产生上述存储器部的地址的地址发生电路；生成向上述存储器部写入的数据模型的数据模型生成电路；产生用来与上述地址发生电路产生的地址对应并控制上述数据模型向上述存储器部的写入动作和从上述存储器部读出数据的读出动作的存储器控制信号的控制信号发生电路；判定上述存储器部是否合格的良否判定电路，其对由上述数据模型生成电路生成的向上述存储器部写入的数据模型对应的期望值数据与在向上述存储器部写入上述数据模型后从上述存储器部读出的输出数据进行比较，若一致则判定是合格品，若不一致则判定为次品；以及判定存储器测试是否结束的测试结束判定电路，上述复位电路响应上述测试结束判定电路的存储器测试的结束判定，对上述存储器自测试电路进行复位。